威邦BHAST高加速偏压寿命老化箱,半导体封装失效分析利器
2026-08-12
威邦BHAST高加速偏压寿命老化箱,简称BHAST。遵循JEDEC JESD22-A110和AEC-Q100系列标准,适用车规芯片,PCB离子迁移,光伏组件以及连接器等产品的加速寿命筛选,同时满足非气密性封装,如BGA、QFN的长期可靠性验证。本试验箱满足典型BHAST试验条件,具有高精度控参、高加速效率、多工况兼容的优势,芯片想要稳,离不开BHAST试验,威邦BHAST 高加速偏压寿命老化箱,让半导体产业实现“芯”突破