你还在为芯片、PCB离子迁移、连接器、光伏组件的可靠性测试耗上千小时排队等待，结果还是漏过隐性缺陷导致批量召回亏到血本无归？行业公认的极速可靠性验证神器来了——威邦BHAST高加速偏压寿命老化箱，直接把数月的老化验证周期压缩到几十小时，精准揪出常规测试根本发现不了的隐形风险，帮你的产品稳稳拿到车规级入市通行证！

全标准合规，全场景适配

这款WBE-BHAST老化箱100%遵循JEDEC JESD22-A110和AEC-Q100系列权威行业标准，满足高温高湿高压+电偏置耦合测试。不用再担心测试报告不被下游客户和监管机构认可！

车规芯片、PCB离子迁移、光伏组件、工业连接器全品类通吃，就连BGA、QFN这类最难测的非气密性封装器件的长期可靠性验证需求，它也能轻松hold住，一台设备覆盖你全产品线的加速寿命筛选需求，直接帮你省下多台测试设备的巨额采购成本。

威邦BHAST，让半导体产业实现“芯”突破

威邦WBE-BHAST系列设备，满足BHAST典型试验条件，如高温（通常 110℃~130℃），高湿（85% R.h），高压（2.3 atm/230Kpa）。典型试验条件见下表。

硬核性能拉满，搞定超高难度测试

威邦专属高加速寿命监控系统搭配专用接口，支持多通道直流偏压接入，单通道最大电流直接拉到5A，不管是最大工作电压（VCCmax）测试还是交替偏置复杂场景，全部轻松适配。偏压最高可达2000V，热负载能力最高200W，哪怕是超大功率芯片的严苛测试要求，它都能稳定运行不出错。

在高温、高湿、高压三重极端环境叠加电偏置的耦合场景下，它能大幅加速湿气侵入器件内部，几秒就逼出常规测试藏得死死的电化学迁移、内部腐蚀、界面分层缺陷，精准快速检测出绝缘性能劣化、线路短路等致命隐形风险，再也不会有产品出货后才出问题的糟心情况。

威邦BHAST高加速偏压寿命老化箱具有高精度控参、高加速效率、多工况兼容的优势，本设备主要由高加速寿命监控系统和高加速寿命老化箱等组成，以下是各部件名称。

高精度硬核参数，稳得超乎想象

高精度控参零误差、高加速效率省时间、多工况兼容全适配‌，选威邦BHAST高加速偏压寿命老化箱，你的可靠性测试效率直接翻倍，产品良率稳稳拉升，行业口碑一路领跑！

关于BHAST高加速偏压寿命老化箱FAQ

F：BHAST试验通常执行什么试验标准？

Q：执行JEDEC JESD22-A110和AEC-Q100。

F：BHAST试验与UHAST试验区别？

Q：主要应力不同，BHAST（Biased HAST）执行的是偏压高加速应力测试，UHAST（Unbiased HAST）执行的是无偏压高加速应力测试。BHAST（带偏压）是电解 / 电化学腐蚀；UHAST（无偏压）是电离 / 化学 / 自然腐蚀。

F：BHAST试验失效模式是什么？

Q：失效模式有金属布线电化学腐蚀、枝晶生长、钝化层下的腐蚀等。

F：威邦BHAST高加速偏压寿命老化箱应用领域？

Q：适用于车规芯片、PCB离子迁移、光伏组件、工业连接器、电容电阻等电子元器件。

F：威邦BHAST高加速偏压寿命老化箱有哪几个型号？

Q：有WBE-BHAST-45，WBE-BHAST-55，WBE-BHAST-65以及非标定制。

总结：

威邦BHAST高加速偏压寿命老化箱，遵循JEDEC JESD22-A110和AEC-Q100系列标准，适用车规芯片，PCB离子迁移，光伏组件以及连接器等产品的加速寿命筛选，同时满足非气密性封装，如BGA、QFN的长期可靠性验证。本试验箱满足典型BHAST试验条件，具有高精度控参、高加速效率、多工况兼容的优势，芯片想要稳，离不开BHAST试验，威邦BHAST 高加速偏压寿命老化箱，让半导体产业实现“芯”突破。

整体来看，威邦BHAST高加速偏压寿命老化箱是一款合规性强、性能硬核、参数灵活可调的专业可靠性测试设备，既能够大幅缩短电子元器件的老化验证周期，又可以精准排查常规测试难以发现的隐性质量缺陷，可充分满足半导体、车规电子、光伏组件等多个行业的高要求可靠性测试需求，是帮助企业提升产品良率、降低后期失效风险的优质测试选型。