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Bond Test Test Type
推拉力测试机测试类型
推拉力测试机测试类型

WBE推拉力测试机(Bond Test)又称焊线键合强度测试仪,剪切力测试机。是Bond工艺,SMT工艺,键合工艺,微电子制造重要的动态力学检测仪器。广泛应用于半导体封装、光通讯器件封装、LED封装、军工器件产品或料件进行失效分析和可靠性测试。现拥有WBE-9088B(自动旋转换模组),WBE-9089B(大行程自动换模组),WBE-9089D(手动换模组)等三款机型供不同用户选型。
测试标准
应用场景
测试内容
WBE推拉力测试机可按不同试验标准,执行所有剪切力、推拉力、拉拔力、下压力等试验,常见试验标准有:

芯片剪切力(DIE SHEAR)                               

MIL-STD-883

IPC-TM-650

球焊剪切力(BALL BOND SHEAR)                 

ASTM-F1269

MIL-STD-883

JEDEC JESD22-B116B

金球剪切力(AU BALL SHEAR)                   

JEDEC JESD22-B116

JEDEC JESD22-B117B

JEITA- ET-7409

引/焊线拉力(WIRE PULL)                     

DT/NDT MIL-STD-883

IPC-TM-650

平拔拉力(STUD PULL)                        

MIL-STD-883

倒装芯片拉力(FLIP CHIP PULL)                  

JEDEC JESD22-B109

冷/热拔球拉力(CBP/HBP)                      

JEITA- ET-7407

JEITA- ET-7409

JEDEC JESD22-B115A

冷/热焊凸块拉力

BGA铜柱剪切力(BGA BUMP SHEAR)            

JEDEC JESD22-B117A

JEDEC JESD22-B117B

JEITA- ET-7409

BGA凸点剪切

WBE推拉力测试机广泛应用于半导体封装、光通讯器件封装、LED封装、军工器件产品或料件进行失效分析和可靠性测试,常见应用场景有:

半导体制造:测试芯片和封装的键合强度

电子制造:测试电路板和连接器的焊接强度

航空航天:测试航天器组件的连接强度

汽车制造:测试汽车零部件的焊接强度

胶水制造:测定胶水与基板的粘接强度

WBE推拉力测试机根据不同试验标准和应用场景,可执行键合线强度拉力测试(WP)、焊点推力测试(BS)、剪切力测试(DS),下压力测试(DP),拉拔力(TP),冷热拔球(C/HBP)等应用。

引线/金线/铜线/合金线/铝线/铝带等键合拉力测试;

金球/铜球/锡球/晶圆/芯片/贴片元件等推力测试;

微焊点/植球/晶片/芯片与基板/BGA等剪切力测试;

锡球/BGA/焊球/ Bump等拉拔力测试;

SMT贴片元件/引脚疲劳等下压力测试和焊接强度测试;

推拉力测试机-测试类型
测试类型 应用领域 设备应用

推力

腔体式推力 铜柱推力 铜片/焊点 芯片推力 金/铜/锡球推力 悬空/堆栈芯片推力 钝化层推力 铝带推力 SMD组件推力 第二焊点推力 推拉力测试机

拉力

金/铝/铜/线拉力 合金线拉力 铝带拉力 锡球/凸块拉力 铜柱拉力 SMD引脚拉力 散热盖拉力 组件/芯片拉力 夹拉力 任意方向拉力 键合强度拉力机

剪切力

微焊点剪切力 植球剪切力 晶片剪切力 芯片与基板剪切力 BGA剪切力 胶水粘接强度剪切力 SMT表面贴装剪切力 剪切力测试机

下压力

弯曲测试 引脚疲劳 2点弯曲下压力 3点弯曲下压力 贴片下压力 引脚疲劳下压力 推拉力测试机

拉拔力

 

薄膜 胶粘剂拉拔力 铝带剥离撕裂 焊球拉拔力 推拉力测试机
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